X射線能譜儀產(chǎn)品及廠家

X射線能譜儀
中文界面導航器：操作簡單易行，只需幾步即可完成分析； 高度智能化，操作者無需經(jīng)驗即可操作，并得到高質量的分析結果；而且只需通常的1/3 工作時間 ( 從啟動到zui終報告)。收譜過程實時自動識別并標注元素峰位，可任選元素的k，l，m線系標定,采用標準樣品譜庫進行譜峰擬合，元素標識為解。可
更新時間:2024-12-26
美國EDAX 能譜儀
1.探頭分辨率優(yōu)于129ev，峰背比優(yōu)于20000:12.檢測元素范圍be4 - es993.大計數(shù)率500,000cps4.大圖象采集分辨率8192x6400象素5.大面分布圖采集分辨率2048x1600象素主要特點 1.探頭指標高，性能好，壽命長。2.全新32位軟硬件系統(tǒng)，工作可靠，效
更新時間:2024-12-26
鍍層測厚儀鍍膜測厚儀材料分析儀
美國賽默飛世爾thermofisher（熱電）公司micronx 利用x-射線熒光的非接觸式的無損測試技術完美地用于微電子學、光通訊和數(shù)據(jù)貯存工業(yè)的金屬薄膜測量。 可以同時測量多至6層的金屬鍍層的厚度和成分，測量厚度可以從a(埃)至μ(微米)，他也能測量多至 20個元素的塊狀合金成分。 其光束和探測器的巧妙結合加上高的數(shù)字處理技術使得micronx能佳地解決你的應用。結果是asim（應用用儀
更新時間:2024-12-26
Rohs檢測儀 鍍層測厚儀膜測厚儀
美國賽黙飛世爾thermofisher（美國熱電）能量色散x-射線熒光光譜儀（ed-xrf）技術參數(shù)樣品室 樣品類型 固體、粉末、液體、濾渣、鍍層和其它 尺寸 30.5cm(w)x38.9cm(d)x6.6cm(h)增高室(選購件): 21.5cm或37.1cm單位盤 樣品可大至樣品室大
更新時間:2024-12-26
X-熒光能譜儀
樣品準備間:溫度:15 c –28 c濕度:相對濕度 20%-75%.空氣潔凈度:無塵, 無腐蝕性氣體, 異氣味. 通風及排風樣品柜2個制樣臺張壓片機用于粉末樣品3.電源及地線:電壓: 200v –230vac 頻率: 50hz 電流:> 20a (實際 >10a)功
更新時間:2024-12-26
KRATOS高性能X射線光電子能譜儀
靈敏度 ag3d5/2 450w 1.0ev時120mmf:200 kcps60mmf:75kcps成圖范圍 10mm×10mm大自動分析 在10mm×10mm視野內的任意20點
更新時間:2024-12-26
Thermo Scientific 光電子能譜儀（XPS）
服務科學的導者賽默飛世爾科技近日宣布，全新thermo scientific escalab 250xi光電子能譜儀（xps）是種全集成式表面表征工具，門設計用于滿足從事表面，薄膜和涂層的常規(guī)表征工作，乃至沿表面化學研發(fā)的工程師們的要求。escalab 250xi是享譽的thermo scienti
更新時間:2024-12-26
島津/KRATOS X射線光電子能譜儀
●靈敏度 700kcps (ag3d5/2)●x射線源 mgkα 12kv、30ma(mg/al靶選購)●到達真空度 5× 10-7pa以下●分辨率 fwhm ag3d5/2 0.8ev●氣體反應池 1000℃@1bar，400℃@6bar（選購）重視基本性能、緊湊設計的x射線光電子能譜儀。測定操作
更新時間:2024-12-26
X射線光電子能譜儀
axis nova采用大功率x光源和浸入式磁透鏡設計以獲取**的檢測靈敏度，同時采用165mm大平均半徑的雙聚焦半球扇形能量分析器，可以獲得**的xps譜線能量分辨。
更新時間:2024-12-26
X射線光電子能譜儀AMICUS
重視基本性能、超緊湊設計的esca。測定操作簡單，可自動分析多種樣品，適于質量管理分析與生產(chǎn)管理分析。備有用于快速深度方向分析的離子槍（選配）。靈敏度/分辨率 700kcps(ag3d5/2、1.15ev)x射線源 mgka 12kv、30ma到達真空度 5×10-7pa以下
更新時間:2024-12-26
YXLON高壓發(fā)生器維修XRG40/200依科視朗
yxlon高壓發(fā)生器維修xrg40/200依科視朗
更新時間:2024-12-26

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