X射線探傷儀產(chǎn)品及廠家

高分辨率微納米工業(yè)CT-射線源5µm
高分辨率微納米工業(yè)ct-射線源5µm easytom s可以對工件進行高分辨率內(nèi)部可視化和測量分析,掃描體積為直徑180mm、高度400mm,分辨率低至2μm,4軸高精度花崗巖機械結(jié)構(gòu),占地面積小易于集成,適合中小尺寸零件。
更新時間:2024-12-23
高分辨率微納米工業(yè)CT-射線源0.4µm
高分辨率微納米工業(yè)ct-射線源0.4µm easytom xl可以對工件進行高分辨率內(nèi)部可視化和測量分析,160kv&微米焦點230kv雙射線源的步入式機柜設(shè)計,可搭載拉伸、壓縮、彎曲和溫度測試的原位裝置,掃描體積為直徑600mm、高度720mm,分辨率低至0.4μm,適合大尺寸零件。
更新時間:2024-12-23

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