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產(chǎn)品屬性

件相關(guān)產(chǎn)品

激光橢偏儀

¥電議型號:SE 400adv PV更新時(shí)間:2024-7-25 產(chǎn)品目錄

激光橢偏儀se 400adv pv se 400adv pv是全球化使用的標準儀器,用于測量pv單層防反射涂層的厚度和折射率指數。特別用于表征單晶和多晶硅太陽(yáng)能電池上的sinx 防反射單層膜的性能。該儀器用于sinx涂層和薄鈍化層sio2和al2o3的質(zhì)量控制。

單位:深圳市藍星宇電子科技有限公司

第 6 年

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12成長(cháng)值

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(41-90)良好信譽(yù)積累,可接洽商談

(91+  )優(yōu)質(zhì)信譽(yù)積累,可持續信賴(lài)

日本Microphase 光譜橢偏儀 PHE

¥電議型號:PHE更新時(shí)間:2024-7-5 產(chǎn)品目錄

單位:深圳市科時(shí)達電子科技有限公司

第 3 年

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三維掃描儀,光學(xué)抄數機,白光掃描儀廠(chǎng)家直銷(xiāo)

¥電議型號:PSD200更新時(shí)間:2024-6-14 產(chǎn)品目錄

三維掃描儀又名光學(xué)抄數機,它采用光電投射單元將結構光面光投射在物體表面,結合計算機視覺(jué)技術(shù)、光電傳感技術(shù)、圖象處理技術(shù)、以及軟件控制等實(shí)現對物體面形一次性快速測量,采用旋轉物體或者掃描頭,變換掃描視角,基于多視角點(diǎn)云標記點(diǎn)的自動(dòng)拼接技術(shù),可完成物體全方位360度掃描.

單位:深圳市鑫瑞測量?jì)x器有限公司

第 2 年

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SEMILAB-全光譜橢偏儀GES5E

¥電議型號:SEMILAB-全光譜橢偏儀GES5E更新時(shí)間:2024-3-1 產(chǎn)品目錄

semilab擁有全球zui優(yōu)秀的電學(xué)和光學(xué)表征技術(shù),產(chǎn)品被廣泛應用于光伏、半導體、科研以及平板測試領(lǐng)域。憑借先進(jìn)的測試設備,為客戶(hù)的生產(chǎn)和質(zhì)量監控提供一套完整的測試方案,在行業(yè)中始終處于領(lǐng)xian地位。

單位:北京亞科晨旭科技有限公司

第 4 年

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8成長(cháng)值

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THJ-06 單偏輪夾具

¥電議型號:THJ-06更新時(shí)間:2023-10-25 產(chǎn)品目錄

thj-06單偏輪夾具

單位:蘇州拓博機械設備有限公司

第 0 年

12333-11-8 偏鎢酸銨水合物

¥電議型號:12333-11-8更新時(shí)間:2023-10-12 產(chǎn)品目錄

偏鎢酸銨水合物英文名稱(chēng):ammonium metatungstate hydratecas:12333-11-8單位:瓶貨期:2-3天偏鎢酸銨水合物100g    560

單位:上?ㄅ锟萍加邢薰

第 0 年

全自動(dòng)高精度穆勒矩陣型橢偏儀

¥電議型號:ME-L更新時(shí)間:2023-8-23 產(chǎn)品目錄

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:me-l是一款科研級全自動(dòng)高精度穆勒矩陣型橢偏儀,凝聚了科研團隊在橢偏技術(shù)多年的投入,其采用行業(yè)前沿的創(chuàng )新技術(shù),包括消色差補償器、雙旋轉補償器同步控制、穆勒矩陣數據分析等?蓱糜诎雽w薄膜結構,半導體周期性納米結構,新材料,新物理現象研究,平板顯示,光伏太陽(yáng)能,功能性涂料,生物和化學(xué)工程,塊狀材料分析以及各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學(xué)納米光柵常數以及一維/二維納米光柵材料結構的表征分析。雙旋轉補償器(drc)配置一次測量全部穆勒矩陣16個(gè)元素;配置自動(dòng)變角器、五維樣件控制平臺等優(yōu)質(zhì)硬件模塊,軟件交互式界面配合輔助向導式設計,易上手、操作便捷;豐富的數據庫和幾何結構模型庫,保證強大數據分析能力。

單位:沈陽(yáng)科晶自動(dòng)化設備有限公司

第 0 年

Photonic-Lattice全檢膜厚Mapping橢偏儀

¥電議型號:ME-210(-T)更新時(shí)間:2023-1-3 產(chǎn)品目錄

日本photonic lattic 通過(guò)以自研的偏振傳感器為核心的新一代全檢膜厚mapping橢偏儀,可以做到1000點(diǎn)/分鐘,6寸產(chǎn)品快可以在3分鐘內完成,不僅如此,me-210-t針對透明基板也可測量。

單位:北京歐屹科技有限公司

第 0 年

G8390-25 Solarbio 偏釩酸鈉 常用鹽

¥電議型號:G8390-25更新時(shí)間:2022-5-1 產(chǎn)品目錄

solarbio 偏釩酸鈉 常用鹽別名:釩酸鈉;sodium vanadate(v)。分子式:navo3分子量:121.93cas#:13718-26-8外觀(guān):白色結晶或淺黃色結晶性粉末特性:溶解性:

單位:北京索萊寶科技有限公司

第 0 年

加拿大2.0QQ群-橢偏儀

¥12600.00型號:3322099更新時(shí)間:2020-9-27 產(chǎn)品目錄

jnd2.0qq群3322099-接待3008574353橢偏儀 jnd2.0qq群3322099-接待3008574353橢偏儀 jnd2.0qq群3322099-接待3008574353橢偏儀

單位:深圳市證通電子股份有限公司

第 0 年

加拿大2.0QQ群-橢偏儀

¥13580.00型號:3322099更新時(shí)間:2020-9-17 產(chǎn)品目錄

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單位:上達電子(深圳)股份有限公司

第 0 年

上海到武義物流公司直達→

¥400.00型號:更新時(shí)間:2020-7-5 產(chǎn)品目錄

上海到武義物流公司專(zhuān)線(xiàn)直達→ 安全快捷的物流公司!xx,我們給您的一定是的服務(wù)==整車(chē)零擔===專(zhuān)線(xiàn)直達===如需發(fā)貨==敬請來(lái)電!l聯(lián)系(400-697-cc譚經(jīng)理)

單位:上海本耐物流有限公司

第 0 年

海洋光學(xué)橢偏儀

¥電議型號:SpecEL-2000更新時(shí)間:2020-6-15 產(chǎn)品目錄

specel-2000是一款操作便捷的臺式光譜橢偏儀,主要用于測量平整和半透明的樣品,例如硅晶圓片和玻璃片等薄膜。 橢圓偏光技術(shù)是一種非接觸式、非破壞性,以光學(xué)技術(shù)測量表面薄膜特性的方法。其檢測原理是:當一束偏振光經(jīng)過(guò)物體表面或界面時(shí),其偏振極化狀態(tài)會(huì )被改變。而橢偏儀就是通過(guò)探測樣品表面的反射光,來(lái)測量此改變(即反射光和入射光的振幅及相位的改變量),以決定表面特性薄膜的光學(xué)常數(n、k值)及膜厚。 specel-2000測試系統主要包括:寬帶光源、高性能線(xiàn)陣ccd光譜儀、導光器件、起偏器、樣品測試臺、檢偏器、光學(xué)增強元件及測量分析軟件。 specel-2000適合于探測薄膜厚度、光學(xué)常數以及材料微結構特性,通常應用于有薄膜存在的地方,其應用

單位:頂尖科儀(中國)股份有限公司

第 0 年

HORIBA UVISEL研究級經(jīng)典型橢偏儀

¥電議型號:UVISEL更新時(shí)間:2020-5-26 產(chǎn)品目錄

器簡(jiǎn)介: 20多年技術(shù)積累和發(fā)展的結晶,是一款高準確性、高靈敏度、高穩定性的經(jīng)典橢偏機型。即使在透明的基底上也能對超薄膜進(jìn)行最精確的測量。采用pem相位調制技術(shù),與機械旋轉部件技術(shù)相比,能提供更好的穩定性和信噪比。

單位:上海巨納科技有限公司

第 0 年

光子晶體探測器型橢偏儀

¥電議型號:ME-210/110更新時(shí)間:2020-5-21 產(chǎn)品目錄

這種光子晶體探測器型的橢偏儀是有日本photonic lattice公司首創(chuàng ),并應用到橢偏儀的測試中。日本photonic lattice公司在光子晶體的研究和制造領(lǐng)域領(lǐng)先世界,由此開(kāi)發(fā)出的光子晶體探測器型橢偏儀具有測試速度快、測量準確、免維護、價(jià)格低廉等特點(diǎn)已經(jīng)在光學(xué)薄膜、半導體薄膜、有機薄膜等領(lǐng)域有著(zhù)廣泛的應用。該橢偏儀可快速準確測量薄膜的厚度和折射率的分布。

單位:北京飛凱曼科技有限公司

第 0 年

EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀(光伏專(zhuān)用)

¥電議型號:EM12-PV更新時(shí)間:2020-5-18 產(chǎn)品目錄

em12-pv用于測量絨面單晶硅或多晶硅太陽(yáng)電池表面減反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可測量光滑平面材料上的單層或多層納米薄膜的膜層厚度,以及在632.8nm下折射率n和消光系數k。

單位:北京賽凡光電儀器有限公司

第 0 年

橢偏儀

¥電議型號:海洋光學(xué)SpecEL-2000更新時(shí)間:2019-5-29 產(chǎn)品目錄

specel-2000是一款操作便捷的臺式光譜橢偏儀,主要用于測量平整和半透明的樣品,例如硅晶圓片和玻璃片等薄膜。

單位:頂尖科儀(中國)股份有限公司

第 0 年

Lenord+Bauer編碼原件

¥666.00型號:GEL 2432T-1BC600更新時(shí)間:2019-3-28 產(chǎn)品目錄

穗鋮(廈門(mén))科技有限公司設立于廈門(mén)經(jīng)濟特區,專(zhuān)注于為客戶(hù)提供德國及歐美地區原產(chǎn)的各類(lèi)工控機電設備、儀器儀表、零配件。確保100%原廠(chǎng)全新正品。產(chǎn)品覆蓋:工業(yè)設備、儀器儀表、過(guò)程控制、電機傳動(dòng)、低壓電器、液壓、工具、傳感器、控制類(lèi)產(chǎn)品的企業(yè),產(chǎn)品應用廣泛。

單位:穗鋮(廈門(mén))科技有限公司

第 0 年

供應橢偏儀/上海/蘇州/無(wú)錫/南京/天津/北京/武漢/西安

¥電議型號:更新時(shí)間:2018-7-26 產(chǎn)品目錄

fft-在應用分析上,可除了橢圓儀原本的回歸分析,還增加了傅利葉的分析方式,可針對不同的材料與厚度使用,user使用上更為便利與快速.

單位:蘇州諾威特測控科技有限公司

第 0 年

橢偏儀0820

¥電議型號:更新時(shí)間:2013-8-20 產(chǎn)品目錄

在光譜橢偏儀的測量中使用不同的硬件配置,但每種配置都必須能產(chǎn)生已知偏振態(tài)的光束。測量由被測樣品反射后光的偏振態(tài)。這要求儀器能夠量化偏振態(tài)的變化量ρ。

單位:金湖恒大自動(dòng)化儀表廠(chǎng)

第 0 年

ES01 快速攝譜式 自動(dòng)變角度光譜橢偏儀

¥電議型號:ES01更新時(shí)間:2012-12-11 產(chǎn)品目錄

es01是針對科研和工業(yè)環(huán)境中薄膜測量推出的高精度全自動(dòng)光譜橢偏儀,系列儀器的波長(cháng)范圍覆蓋紫外、可見(jiàn)到紅外。es01系列光譜橢偏儀用于測量單層和多層納米薄膜的層構參數(如,厚度)和物理參數(如,折射率n、消光系數k),也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數k。es01系列光譜橢偏儀適合于對樣品進(jìn)行實(shí)時(shí)和非實(shí)時(shí)檢測。

單位:北京量拓科技有限公司

第 0 年

橢偏儀

¥電議型號:111更新時(shí)間:2012-5-19 產(chǎn)品目錄

激光系列產(chǎn)品 光譜測試儀器 光學(xué)精密機械 光源 光學(xué)影像 探測器 光學(xué)元件 光通信儀器 生物分析儀器

單位:長(cháng)春市海洋光電有限公司

第 0 年

光譜橢偏儀

¥電議型號:SE200更新時(shí)間:2012-4-26 產(chǎn)品目錄

美國ast公司設計和制造適用各種不同應用的高品質(zhì)的光譜橢偏系統。橢偏振光譜儀(se)具有功能強大的技術(shù),主要用于精確測量薄膜厚度,光學(xué)常數確定,觀(guān)測薄膜表面粗糙度和薄膜材料在物理,化學(xué)和材料的光學(xué)特性。功能強大分析軟件tfprobe3.0可分析測試薄膜材料的多種性能,如薄膜材料厚度、表面粗糙度、合金濃度、介電常數。

單位:北京燕京電子有限公司

第 0 年

光譜型橢偏儀

¥電議型號:更新時(shí)間:2012-3-8 產(chǎn)品目錄

儀器為光譜型橢偏儀,它的設計緊湊、易于使用,可以精確測量膜層的厚度和折光系數。

單位:科睿技術(shù)發(fā)展有限公司

第 0 年

nanofilm呈像橢偏儀

¥電議型號:EP3更新時(shí)間:2012-3-8 產(chǎn)品目錄

德國nanofilm公司于1991年開(kāi)發(fā)出了世界上臺brewster角顯微鏡(bam)。近幾年來(lái),nanofilm又相繼推出了不同用途的bam產(chǎn)品以及相應的配套儀器。

單位:源順科技儀器有限公司

第 0 年

nanofilm呈像橢偏儀

¥電議型號:EP3更新時(shí)間:2012-3-8 產(chǎn)品目錄

德國nanofilm公司于1991年開(kāi)發(fā)出了世界上臺brewster角顯微鏡(bam)。近幾年來(lái),nanofilm又相繼推出了不同用途的bam產(chǎn)品以及相應的配套儀器。

單位:源順科技儀器有限公司

第 0 年
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