DR-H308 IC-PCT高壓加速壽命老化箱

IC-PCT高壓加速壽命老化箱

PCT，即Pressure Cooker Test，也被稱為加速老化試驗(yàn)，是一種模擬高溫高濕的環(huán)境條件的試驗(yàn)方法。通過將產(chǎn)品放置在高溫高濕的環(huán)境中，加速產(chǎn)生各種老化現(xiàn)象，例如材料老化、電路老化等。通過持續(xù)測(cè)試和觀察，可以了解產(chǎn)品在長(zhǎng)時(shí)間使用和暴露于惡劣環(huán)境中的情況，進(jìn)而對(duì)其可靠性進(jìn)行評(píng)估。

試驗(yàn)箱采用高品質(zhì)的材料和的技術(shù)，以確保試驗(yàn)的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。箱體采用厚重的不銹鋼材料制造，具有優(yōu)異的耐腐蝕性和強(qiáng)度，能夠承受高溫和高濕的試驗(yàn)環(huán)境。同時(shí)，裝備有的溫濕度控制系統(tǒng)，可以精確控制試驗(yàn)過程中的溫度和濕度變化，保證試驗(yàn)的穩(wěn)定性和可靠性。

廣泛應(yīng)用于電子、電器、汽車、機(jī)械等領(lǐng)域，用于對(duì)各種產(chǎn)品進(jìn)行可靠性和耐久性的評(píng)估。例如，在電子行業(yè)中，可以用于測(cè)試電子元件、半導(dǎo)體芯片、電路板等在高溫高濕環(huán)境下的工作狀態(tài)和可靠性；在汽車行業(yè)中，可以用于測(cè)試汽車零部件的耐久性和性能表現(xiàn)。通過試驗(yàn)箱的使用，可以加快產(chǎn)品的研發(fā)和改進(jìn)流程，提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。

IC-PCT高壓加速壽命老化箱技術(shù)參數(shù)：

規(guī)格

1.內(nèi)箱尺寸: 300×450 mm(φ×D)圓形試驗(yàn)箱.

2.外箱尺寸: 600×920×690 mm(W×H×D)

3.內(nèi)箱材質(zhì) : SUS 316#不銹鋼板材質(zhì).

4.外箱材質(zhì)： 高級(jí)烤漆。

5.溫度范圍 : 105℃～132℃.  (飽和蒸氣溫度).

6.濕度范圍 : 100%RH .  (飽和蒸氣濕度).

7.壓力范圍（表上壓力） : 0.2Kg/cm2～2.0 Kg/cm2或（2.2 Kg/cm2）控制點(diǎn)壓力 (安全壓力容量3.5Kg/cm2 ).

8.時(shí)間范圍: 0 ～ 999 小時(shí)可調(diào).

9.溫度分布: ≤± 2.0℃.

10.升溫時(shí)間:常溫 ～ 135℃約40分鐘內(nèi). （控制點(diǎn)溫度）.

11.加壓時(shí)間:0.0Kg/cm2 ～ 2.2Kg/cm2 約45分鐘內(nèi)（控制點(diǎn)壓力）.

12.控制對(duì)象:微電腦+P.I.D.+S.S.R自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度.

13.控制方式:微電腦PID控制.

14.控制精度: ≤± 0.5℃.

15.解析精度:0.1℃.