涂層測厚儀產(chǎn)品及廠家
標(biāo)準(zhǔn)配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實(shí)現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2024-12-27
天瑞膜厚測量儀滿足不同需求：測試軟件為windows操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強(qiáng)大，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài)，設(shè)定儀器參數(shù)，并就有多種優(yōu)質(zhì)的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
更新時間:2024-12-27
電鍍液鍍層含量測定鍍層測厚儀 型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。
更新時間:2024-12-27
xrf電鍍層膜厚儀 開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實(shí)現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2024-12-27
標(biāo)準(zhǔn)配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實(shí)現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2024-12-27
蘭泰cm-8822涂層測厚儀，cm8822手持式涂層測厚儀產(chǎn)品型號： cm-8822功能： 測量導(dǎo)磁物體上的非導(dǎo)磁涂層和非磁性金屬基體上的非導(dǎo)電覆蓋層的厚度測量范圍：0-1000um/0-40mil (標(biāo)準(zhǔn)量程)最小曲面:f: 凸1.5mm/ 凹 25mm n: 凸 3mm/ 凹 50mm分辨率：0.1/1最小測量面積：6mm最薄基底：0.3mm自動關(guān)機(jī)使用環(huán)境：溫度：0-40℃ 濕度：10-90%rh準(zhǔn)確度：±(1～3%n)或±2um電源：4節(jié)5號電池電池電壓指示：低電壓提示外形尺寸：161x69x32mm重量：210g（不含電池）
更新時間:2024-12-26
設(shè)計(jì)特點(diǎn)天瑞edxrf金屬鍍層厚度測厚儀是天瑞儀器股份有限公司集30多年x熒光膜厚測量技術(shù)所研發(fā)的一款鍍層膜厚儀。
更新時間:2024-12-26
設(shè)計(jì)特點(diǎn)天瑞edxrf金屬鍍層厚度測厚儀是天瑞儀器股份有限公司集30多年x熒光膜厚測量技術(shù)所研發(fā)的一款鍍層膜厚儀。
更新時間:2024-12-26
天瑞x射線熒光膜厚儀對樣品可做半定量或準(zhǔn)定量分析譜線峰背比高,分析靈敏度高不破壞試樣,無損分析試樣形態(tài)多樣化(固體、液體、粉末等)設(shè)備可靠、維修、維護(hù)簡單便捷、低廉的售后服務(wù)保證
更新時間:2024-12-26
天瑞膜厚檢測儀是由江蘇天瑞儀器股份有限公司著重研發(fā)并生產(chǎn)、銷售天瑞儀器鎳鈀金鍍層厚度測厚儀。采用高度定位激光，可自動定位測試高度定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊
更新時間:2024-12-26
天瑞膜厚測量儀滿足不同需求：測試軟件為windows操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強(qiáng)大，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài)，設(shè)定儀器參數(shù)，并就有多種優(yōu)質(zhì)的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
更新時間:2024-12-26
江蘇天瑞膜厚儀應(yīng)用優(yōu)勢：針對不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測試點(diǎn)分析；軟件可分析達(dá)到5層25種元素鍍層；通過軟件操作樣品移動平臺，實(shí)現(xiàn)不同測試點(diǎn)的測試需求；
更新時間:2024-12-26
雙激光定位裝置。鉛玻璃pingbi罩。鍍金x熒光鍍層測厚儀廠家上市公司應(yīng)用領(lǐng)域黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。
更新時間:2024-12-26
磁性測厚儀能測鍍金料元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個可xuanze的分析和識別模型。
更新時間:2024-12-26
x射線涂層測厚儀高壓電源● 輸出電壓：0~50kv● 燈絲電流：0~2ma● 功率：50w● 紋波系數(shù)：0.1%（p-p 8小時穩(wěn)定性：0.05%
更新時間:2024-12-26
x射線涂層測厚儀高壓電源● 輸出電壓：0~50kv● 燈絲電流：0~2ma● 功率：50w● 紋波系數(shù)：0.1%（p-p 8小時穩(wěn)定性：0.05%
更新時間:2024-12-26
通過軟件操作樣品移動平臺，實(shí)現(xiàn)不同測試點(diǎn)的測試需求；x射線測厚儀 鍍鋅配置高分辨率si-pin半導(dǎo)體探測器，實(shí)現(xiàn)對多鍍層樣品的分析；內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶觀測樣品狀態(tài)；高度激光敏感性傳感器保護(hù)測試窗口不被樣品撞擊。
更新時間:2024-12-26
供應(yīng)x射線測厚儀廠家滿足不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求移動平臺可測試點(diǎn)
更新時間:2024-12-26
x射線熒光納米測厚儀應(yīng)用領(lǐng)域?qū)I(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行檢測。可廣泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域。
更新時間:2024-12-26
鍍層膜厚分析儀注意事項(xiàng)開啟儀器電源開關(guān)時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2024-12-26
鍍層膜厚分析儀注意事項(xiàng)開啟儀器電源開關(guān)時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2024-12-26
標(biāo)準(zhǔn)配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實(shí)現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2024-12-26
標(biāo)準(zhǔn)配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實(shí)現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2024-12-26
標(biāo)準(zhǔn)配置鍍層厚度分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實(shí)現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時間:2024-12-26
鍍層厚度測量儀鋅鎳合金專用光譜儀型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
更新時間:2024-12-26
合金成分鍍層膜厚分析儀器注意事項(xiàng)開啟儀器電源開關(guān)時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2024-12-26
鉛玻璃屏蔽罩。合金鍍層膜厚儀高低壓電源。x光管。高度傳感器保護(hù)傳感器計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
更新時間:2024-12-26
鉛玻璃屏蔽罩。合金鍍層膜厚儀高低壓電源。x光管。高度傳感器保護(hù)傳感器計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
更新時間:2024-12-26
合金成分鍍層厚度膜厚儀 注意事項(xiàng)開啟儀器電源開關(guān)時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2024-12-26
鍍層膜厚儀 型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。
更新時間:2024-12-26
xrf電鍍層膜厚儀 開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實(shí)現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2024-12-26
xrf電鍍層膜厚儀 開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實(shí)現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2024-12-26
鍍層厚度測試分析儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實(shí)現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時間:2024-12-26
天瑞儀器thick800a 注意事項(xiàng)開啟儀器電源開關(guān)時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準(zhǔn)和探頭損壞
更新時間:2024-12-26
x射線鍍層測厚檢測儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實(shí)現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。高低壓電源。x光管。
更新時間:2024-12-26
國產(chǎn)鍍層膜厚儀注意事項(xiàng)開啟儀器電源開關(guān)時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2024-12-26
國產(chǎn)鍍層膜厚儀注意事項(xiàng)開啟儀器電源開關(guān)時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2024-12-26
國產(chǎn)x鍍層測厚儀開放式樣品腔。二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實(shí)現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。高低壓電源。
更新時間:2024-12-26
天瑞儀器光譜儀thick800a 同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個可選擇的分析和識別模型。
更新時間:2024-12-26
x鍍層測厚儀注意事項(xiàng)開啟儀器電源開關(guān)時，動作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會污染x光管和探測器窗口，造成測量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
更新時間:2024-12-26
電鍍滾鍍廠測厚儀：thick800a測定步驟：步：新建snpb-cu鍍層厚度標(biāo)準(zhǔn)曲線第二步：確定測試時間：40s第三步：測試其重復(fù)性得出相對標(biāo)準(zhǔn)偏差
更新時間:2024-12-26
x射線鍍層測厚檢測儀針對不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測試點(diǎn)分析；軟件可分析5層25種元素鍍層；通過軟件操作樣品移動平臺，實(shí)現(xiàn)不同測試點(diǎn)的測試需求；配置高分辨率si-pin半導(dǎo)體探測器，實(shí)現(xiàn)對多鍍層樣品的分析；
更新時間:2024-12-26
電鍍層測厚儀型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個可選擇的分析和識別模型。
更新時間:2024-12-26
任意多個可選擇的分析和識別模型。銅鍍鎳鍍鋅測厚膜厚儀相互立的基體效應(yīng)校正模型。多變量非線性回收程序度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。電源: 交流220v±5v, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
更新時間:2024-12-26
thick800a 膜厚儀特點(diǎn)1.上照式2.儀高分辨率探測器3.鼠標(biāo)定位測試點(diǎn)4.測試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
更新時間:2024-12-26
鍍層膜厚測厚儀型號：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
更新時間:2024-12-26
最新產(chǎn)品
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