場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡產(chǎn)品及廠家

JEOL場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡
jem-3200fs場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡配備了高加速電壓為300kv的場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)╢eg）和鏡筒內(nèi)置式ω型能量過(guò)濾器，能為廣泛的研究域提供各種全新的解決方案。
更新時(shí)間:2025-04-03
場(chǎng)發(fā)射掃描透射電子顯微鏡
jem-f200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡，以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開(kāi)發(fā)的jem-f200場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿(mǎn)足多種使用途徑，易用性強(qiáng)，外觀設(shè)計(jì)精煉，能為不同層次的用戶(hù)提供新奇的操作體驗(yàn)。
更新時(shí)間:2025-04-03
德國(guó)Zeiss 場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡
德國(guó)zeiss場(chǎng)發(fā)射電子顯微鏡sigma 300 ，專(zhuān)利gemini鏡筒，超高的束流穩(wěn)定性， 卓越的低電壓性能，in lens 探測(cè)器，磁性材料高分辨觀察。
更新時(shí)間:2025-04-03
臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
秉承飛納臺(tái)式掃描電鏡系列全自動(dòng)操作、快速成像、不噴金觀看不導(dǎo)電樣品、完全防震、性能穩(wěn)定的特點(diǎn)，荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場(chǎng)發(fā)射電子源臺(tái)式掃描電鏡 phenom pharos g2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場(chǎng)發(fā)射電子源，使用戶(hù)可以輕松獲得高分辨率圖像，分辨率優(yōu)于 1.5nm
更新時(shí)間:2025-04-01
飛納臺(tái)式掃描電鏡Phenom Pure
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺(tái)式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍，用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)；诟吡炼 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng)，phenom pure 的分辨率輕松達(dá)到 10 nm，同時(shí)具有全自動(dòng)操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-04-01
掃描電鏡RISE
掃描電鏡rise — 拉曼成像與掃描電子聯(lián)用顯微鏡（拉曼-sem）
更新時(shí)間:2025-03-26
ZEISS EVO18鎢燈絲掃描電鏡
zeiss商業(yè)化電鏡的歷史和經(jīng)驗(yàn)已超過(guò)60年，其技術(shù)先進(jìn)、性能卓越，在失效分析以及各種分析研究中具有廣泛的應(yīng)用。zeiss不斷追求、推出新的技術(shù)和新的產(chǎn)品，使其成為不僅可拍攝高分辨率圖像，還可以完成各種各樣的分析研究，更加體現(xiàn)zeiss電子顯微鏡高價(jià)值 和高利用性。
更新時(shí)間:2025-03-24
ZEISS ΣIGMA熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
zeiss σigma 電鏡為肖特基（schottky）熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡。目前歐美地區(qū)比較推崇熱場(chǎng)發(fā)射電鏡，而日本較熱衷于冷場(chǎng)發(fā)射電鏡。該場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡主要有如下特點(diǎn)：
更新時(shí)間:2025-03-24
日立高新熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
日立高新技術(shù)公司（以下簡(jiǎn)稱(chēng)：日立高新）8月4日開(kāi)始發(fā)售的肖特基式場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡“su5000“，搭載了全新的用戶(hù)界面和“em wizard“，無(wú)論用戶(hù)的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。
更新時(shí)間:2025-03-19
廣州AKERSTROMS 發(fā)射器 940341-000
廣州akerstroms 發(fā)射器 940341-000
更新時(shí)間:2025-03-15
AKERSTROMS 發(fā)射器 940341-000
akerstroms 發(fā)射器 940341-000
更新時(shí)間:2025-03-15
日立臺(tái)式掃描電鏡
可根據(jù)不同樣品設(shè)置不同的觀察條件 樣品倉(cāng)內(nèi)的真空度及加速電壓有多種選擇，可根據(jù)需求自行設(shè)置。簡(jiǎn)化尋找視野、圖像拍攝、圖像確認(rèn)等一系列操作過(guò)程（選配） 在樣品倉(cāng)上可選配光學(xué)相機(jī)，樣品開(kāi)始觀察先拍攝樣品的整體照片，雙擊照片上的樣品，即可實(shí)現(xiàn)照片導(dǎo)航功能。
更新時(shí)間:2025-03-15
日立高新熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
日立高新熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡這次新開(kāi)發(fā)的"su5000"對(duì)用戶(hù)沒(méi)有任何操作技巧上的要求，通過(guò)”em wizard“只要選擇好觀察目的就可以得到好照片。"em wizard"以人為本的設(shè)計(jì)理念使電鏡的操作性大幅上升，對(duì)于用戶(hù)來(lái)說(shuō)，再也不用去討論該用什么條件進(jìn)行觀察，只要按照觀察目的選擇”表面細(xì)節(jié)觀察“或是”成分分布“等就可以自動(dòng)將適合的觀察條件設(shè)置好。除此之外，使用經(jīng)驗(yàn)豐富的操作人員也可以像往常一樣
更新時(shí)間:2025-03-15
SU5000 日立高新熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
日立高新熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡su5000--搭載用戶(hù)界面，向所有用戶(hù)提供高畫(huà)質(zhì)圖像--       日立高新技術(shù)公司（以下簡(jiǎn)稱(chēng)：日
更新時(shí)間:2025-03-15
SU8700 日立肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
日立肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡su8700fe-sem獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對(duì)簡(jiǎn)單，并且它可以觀察、測(cè)量并分析樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu)，因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件、生命科學(xué)、材料等領(lǐng)
更新時(shí)間:2025-03-15
SU3800 日立中型掃描電鏡
 日立中型掃描電鏡su38001) 支持超大/超重樣品測(cè)試　　可搭載的 大樣品尺寸：“su3800” 標(biāo)配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉(cāng)，可應(yīng)對(duì) 大高度為80mm、重量為2k
更新時(shí)間:2025-03-15
TM4000 II / TM4000Plus I 日立臺(tái)式掃描電鏡
日立臺(tái)式掃描電鏡tm4000 ii / tm4000plus i臺(tái)式顯微鏡作為掃描電子顯微鏡（sem）在生物技術(shù)和材料等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。該系列由日立高新技術(shù)于2005年4月開(kāi)始銷(xiāo)售，可放在辦公桌上，
更新時(shí)間:2025-03-15
SU3900 日立大型掃描電鏡
日立大型掃描電鏡su3900在以納米技術(shù)和生物技術(shù)為主的產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域里，從物質(zhì)的微細(xì)結(jié)構(gòu)到組成成分，sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應(yīng)用。sem用途日益擴(kuò)大，但對(duì)于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車(chē)零配件等超大
更新時(shí)間:2025-03-15
日立肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
日立肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡此外，為一次性獲取大量信息，單次掃描像素?cái)U(kuò)展到了40,960 x 30,720（選配），是之型號(hào)的64倍。利用這一功能，可憑借一張數(shù)據(jù)圖像有效評(píng)估多處局部的細(xì)微結(jié)構(gòu)。在fe-sem的觀察和分析中，需要根據(jù)測(cè)量樣品與需求調(diào)整觀察條件。調(diào)整所需時(shí)間的長(zhǎng)短取決于用戶(hù)的操作熟練度，這是造成數(shù)據(jù)質(zhì)量與效率差異的因素之一。此系列產(chǎn)品標(biāo)配自動(dòng)調(diào)整功能，可避免人為操作導(dǎo)
更新時(shí)間:2025-03-15
日立大型掃描電鏡
日立大型掃描電鏡近年來(lái)為了實(shí)現(xiàn)各種材料的高功能化和高性能化，需要觀察并優(yōu)化材料的微細(xì)結(jié)構(gòu)。目sem的應(yīng)用除了以往的研究開(kāi)發(fā)以外，已擴(kuò)展到質(zhì)量和生產(chǎn)管理方面，使用頻率日益高漲。同時(shí)市場(chǎng)也對(duì)儀器的操作性能提出了更高的要求，以進(jìn)一步減輕操作人員的負(fù)擔(dān)　　此次發(fā)
更新時(shí)間:2025-03-15
THz近場(chǎng)顯微鏡
teracube thz近場(chǎng)顯微鏡利用高性能太赫茲探針，結(jié)合時(shí)域泵浦探測(cè)系統(tǒng)成為thz近場(chǎng)系統(tǒng)可以進(jìn)行高分辨率的成像研究。teracube scientific和新的teracube scientific m2是全自動(dòng)太赫茲近場(chǎng)掃描系統(tǒng)，可以在光學(xué)實(shí)驗(yàn)室中運(yùn)行。
更新時(shí)間:2025-03-05
TM3030臺(tái)式掃描電鏡
日立臺(tái)式顯微鏡tm3030的開(kāi)機(jī)啟動(dòng)時(shí)間非常短，只需約3分鐘，而常規(guī)電子顯微鏡大約需要20分鐘的啟動(dòng)時(shí)間。tm3030獨(dú)特的低真空顯微鏡功能使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。緊湊型設(shè)計(jì)意味著tm3030可以在辦公室和其他地方方便地安裝和操作。tm3030提高了圖像的分辨率，滿(mǎn)足了客戶(hù)尋求高分辨率、不需樣品制備的需求。通過(guò)優(yōu)化電子光學(xué)系統(tǒng)，tm3030提供了一個(gè)“5kv mode”，使得樣品表面結(jié)構(gòu)得到最好觀察，并且觀察不需要在高加速電壓下進(jìn)行。
更新時(shí)間:2025-03-05
SU8010發(fā)射掃描電鏡
1. 優(yōu)秀的低加速電壓成像能力，1kv分辨率可達(dá)1.3nm2. 日立專(zhuān)利的exb設(shè)計(jì)，不需噴鍍，可以直接觀測(cè)不導(dǎo)電樣品3. upper探頭可選擇接受二次電子像或背散射電子像4. 可以根據(jù)樣品類(lèi)型和觀測(cè)要求選擇打開(kāi)或關(guān)閉減速功能5. 標(biāo)配有冷指、電子槍內(nèi)置加熱器，物鏡光闌具有自清潔功能6. 儀器的烘烤維護(hù)及烘烤后的透鏡機(jī)械對(duì)中均可由用戶(hù)自行完成
更新時(shí)間:2025-03-05
SU8020發(fā)射掃描電鏡
1. 優(yōu)秀的低加速電壓成像能力，1kv分辨率可達(dá)1.3nm2. 日立專(zhuān)利的exb設(shè)計(jì)，不需噴鍍，可以直接觀測(cè)不導(dǎo)電樣品3. 配置lower、upper和top三個(gè)everhart-thornley型探測(cè)器4. upper和top探頭均可選擇接受二次電子像或背散射電子像5. 可以根據(jù)樣品類(lèi)型和觀測(cè)要求選擇打開(kāi)或關(guān)閉減速功能6. 標(biāo)配有冷指、電子槍內(nèi)置加熱器，物鏡光闌具有自清潔功能7. 儀器的烘烤維護(hù)及烘烤后的透鏡機(jī)械對(duì)中均可由用戶(hù)自行完成
更新時(shí)間:2025-03-05
發(fā)射掃描電鏡
特點(diǎn)：1. 優(yōu)秀的低加速電壓成像能力，1kv分辨率可達(dá)1.3nm2. 日立專(zhuān)利的exb設(shè)計(jì)，不需噴鍍，可以直接觀測(cè)不導(dǎo)電樣品3. upper探頭可選擇接受二次電子像或背散射電子像4. 可以根據(jù)樣品類(lèi)型和觀測(cè)要求選擇打開(kāi)或關(guān)閉減速功能5. 標(biāo)配有冷指、電子槍內(nèi)置加熱器，物鏡光闌具有自清潔功能6. 儀器的烘烤維護(hù)及烘烤后的透鏡機(jī)械對(duì)中均可由用戶(hù)自行完成
更新時(shí)間:2025-03-05
臺(tái)式掃描電鏡
臺(tái)式掃描電鏡 2013年5月7日，日立高新技術(shù)公司推出臺(tái)式掃描電鏡tm3030。 日立高新生產(chǎn)和銷(xiāo)售的電子顯微鏡廣泛用于各行業(yè)的研究和開(kāi)發(fā)、質(zhì)量管理等，包括納米技術(shù)和生物技術(shù)領(lǐng)域。臺(tái)式顯微鏡目前在全世界范圍內(nèi)廣泛使用，主要應(yīng)用領(lǐng)域包括私營(yíng)企業(yè)、政府機(jī)關(guān)、科學(xué)博物館、以及教育機(jī)構(gòu)如大學(xué)、學(xué)院、小學(xué)和初中學(xué)校。臺(tái)式
更新時(shí)間:2025-03-05
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡參數(shù)原理日本電子
日本電子jsm-7001f熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（thermal field emission sem），是能夠滿(mǎn)足與高分辨率和易用性同樣的分析應(yīng)用需求的理想平臺(tái)。具有大型、5軸、全對(duì)中馬達(dá)驅(qū)動(dòng)自動(dòng)化樣品臺(tái),還有單動(dòng)作樣品更換氣鎖、它的小束口壓直徑，即使在大電流和低電壓時(shí)，也具有適用于eds、wds、ebsp和cl的理想結(jié)構(gòu)的擴(kuò)充性。樣品室可處理直徑最大為 200mm的樣品。0755-3150
更新時(shí)間:2025-03-03
掃描電鏡報(bào)價(jià) 鄭先生18165774321
日本電子jsm-7100f獨(dú)特的高強(qiáng)力電子光學(xué)系統(tǒng)能保證1.2nm 的超高分辨率，能很容易地進(jìn)行納米結(jié)構(gòu)的研究。
更新時(shí)間:2025-03-03
集成礦物分析儀 TIMA3 LMU/LMH FEG
tima3 lmu/lmh feg是一款基于場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡設(shè)計(jì)的集成式礦物分析專(zhuān)家，適用于采礦和礦物處理行業(yè)的應(yīng)用。tescan的獨(dú)特技術(shù)是基于一個(gè)完全集成的edx系統(tǒng)，能以非？斓乃俣葓(zhí)行全譜掃描，可用于礦石特性檢測(cè)、工藝優(yōu)化、修復(fù)技術(shù)和貴金屬與稀土的尋找。sem和edx硬件的集成水平實(shí)現(xiàn)了以前所未有的采集速度完全自動(dòng)化的數(shù)據(jù)采集，并得到快速、準(zhǔn)確和可靠的結(jié)果
更新時(shí)間:2025-03-03
飛納臺(tái)式掃描電鏡 Phenom 超大樣品臺(tái)
超大樣品臺(tái)（標(biāo)配，僅適用于 phenom xl）phenom xl 電鏡腔室由原來(lái)的 32 mm 擴(kuò)容為 100 mm x 100 mm，一次可容納至多 36 個(gè) 1/2 英寸樣品臺(tái)樣品最大尺寸：長(zhǎng) 100 mm；寬 100 mm；高度 65 mm用這個(gè)樣品臺(tái)可以對(duì)各種各樣的樣品成像
更新時(shí)間:2025-02-24
飛納臺(tái)式掃描電鏡 Phenom 標(biāo)準(zhǔn)金相樣品杯
設(shè)計(jì)用于冶金/金相樣品的觀察（鑲嵌在樹(shù)脂里）最大尺寸：直徑32mm；高度30mm
更新時(shí)間:2025-02-24
飛納臺(tái)式電鏡 Phenom 微型電子器件插件
微型電子元器件插件是設(shè)計(jì)用來(lái)最小化制樣時(shí)間的。插件配合金相樣品杯使用。
更新時(shí)間:2025-02-24
飛納臺(tái)式掃描電鏡 Phenom X 斷面觀測(cè)插件
微型電子元器件插件是設(shè)計(jì)用來(lái)最小化制樣時(shí)間的。插件配合金相樣品杯使用。
更新時(shí)間:2025-02-24
飛納臺(tái)式掃描電鏡 Phenom Pure
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺(tái)式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍，用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)；诟吡炼 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng)，phenom pure 的分辨率輕松達(dá)到 10 nm，同時(shí)具有全自動(dòng)操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-02-24
DH40 養(yǎng)殖燃油熱風(fēng)機(jī) 養(yǎng)殖場(chǎng)加溫設(shè)備
2020年即將到來(lái)，隨著人們生活水平的不斷提高，對(duì)雞、鴨、鵝的需求量也不斷增加，農(nóng)村飼養(yǎng)的土雞肉質(zhì)好、味道鮮，深受消費(fèi)者喜歡。但由于它生長(zhǎng)速度慢，因而養(yǎng)殖者的總體經(jīng)濟(jì)效益不高，育雛對(duì)室溫的要求比較嚴(yán)格
更新時(shí)間:2025-01-14
DH60 熱風(fēng)機(jī) 燃油熱風(fēng)爐 養(yǎng)殖場(chǎng)采暖設(shè)備
熱風(fēng)機(jī) 燃油熱風(fēng)爐主要應(yīng)用于養(yǎng)殖育雛、工業(yè)廠房采暖、農(nóng)業(yè)大棚加溫，由于燃油熱風(fēng)機(jī)移動(dòng)方便，升溫迅速，熱風(fēng)溫度穩(wěn)定，不會(huì)出現(xiàn)忽冷忽熱現(xiàn)象，機(jī)器自帶恒溫功能，當(dāng)溫度到達(dá)設(shè)置溫度之后即停止耗油，低于設(shè)置溫度
更新時(shí)間:2025-01-14
DHC-40 養(yǎng)殖場(chǎng)烘干機(jī)燃油熱風(fēng)機(jī)
              養(yǎng)殖場(chǎng)烘干機(jī)燃油熱風(fēng)機(jī)選擇燃油熱風(fēng)機(jī)的理由
更新時(shí)間:2025-01-14
日立高新分析超高分辨率肖特基熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
日立高新分析超高分辨率肖特基熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡su-70 是一種新概念掃描電子顯微鏡。日立高新分析超高分辨率肖特基熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡su-70采用了日立經(jīng)過(guò)實(shí)地驗(yàn)證的 “semi-in-lens”超高分辨率技術(shù)以及肖特基熱場(chǎng)發(fā)射電子槍技術(shù)。
更新時(shí)間:2024-10-25
日立高新超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
日立高新超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡su9000是專(zhuān)門(mén)為電子束敏感樣品和需最大300萬(wàn)倍穩(wěn)定觀察的先進(jìn)半導(dǎo)體器件，高分辨成像所設(shè)計(jì)。新的電子槍和電子光學(xué)設(shè)計(jì)提高了低加速電壓性能。
更新時(shí)間:2024-10-25
日立熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
更新時(shí)間:2024-10-25
日立高新熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
日立高新技術(shù)公司（以下簡(jiǎn)稱(chēng)：日立高新）8月4日開(kāi)始發(fā)售的肖特基式場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡"su5000"，搭載了全新的用戶(hù)界面和"em wizard"，無(wú)論用戶(hù)的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。
更新時(shí)間:2024-10-25
日立高新場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8200系列
日立高新場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡su8200系列（hitachi uhr fe-sem su8200 series，su8220，su8230，su8240）采用日立高新技術(shù)公司全新開(kāi)發(fā)的冷場(chǎng)電子槍?zhuān)瑢?shí)現(xiàn)超高分辨率下觀察的同時(shí)，穩(wěn)定的束流亦可滿(mǎn)足長(zhǎng)時(shí)間下的分析需求。在日立高新的新型冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(fe-sem)su8200系列中，有su8220、su8230、su8240三款機(jī)型，于5月20日開(kāi)始
更新時(shí)間:2024-10-25
超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
"regulus系列"是日立高新技術(shù)的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續(xù)機(jī)型開(kāi)發(fā)的 "regulus8100" 以及su8200系列的升級(jí) "regulus8220" "regulus8230" "regulus8240"，共4個(gè)機(jī)型，均實(shí)現(xiàn)了分辨率和操作性的強(qiáng)化。
更新時(shí)間:2024-10-25
日立高新超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8000系列
日立高新超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡su8000系列（hitachi uhr fe-sem su8000 series，su8010，su8020，su8030，su8040）具有共同的卓越功能，諸如超高分辨率技術(shù)（1.3nm/1.0kv），信號(hào)探測(cè)系統(tǒng)范圍廣，可操作性強(qiáng)，便于用戶(hù)操作等。
更新時(shí)間:2024-10-25
日立中型掃描電鏡SU3800
　可搭載的最 大樣品尺寸：“su3800” 標(biāo)配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉(cāng)，可應(yīng)對(duì)最 大高度為80mm、重量為2kg的樣品。 “su3900”作為日立高新技術(shù)的大型掃描電鏡，標(biāo)配可搭載最 大直徑300mm樣品的樣品倉(cāng)，可應(yīng)對(duì)最 大高度為130mm、重量為5kg(比前代機(jī)型提高2.5倍*2)的樣品
更新時(shí)間:2024-10-25
日立大型掃描電鏡SU3900
在以納米技術(shù)和生物技術(shù)為主的產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域里，從物質(zhì)的微細(xì)結(jié)構(gòu)到組成成分，sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應(yīng)用。sem用途日益擴(kuò)大，但對(duì)于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車(chē)零配件等超大/超重樣品，由于電鏡樣品臺(tái)能對(duì)應(yīng)的樣品尺寸和重量受到限制，所以觀察時(shí)需要進(jìn)行切割等加工。因此，對(duì)超大樣品不施以加工處理，便可直接觀察表面微細(xì)形貌和進(jìn)行各種分析則成為重要的課題。
更新時(shí)間:2024-10-25
日立120kV透射電鏡HT7800
日立新一代全數(shù)字化120kv透射電子顯微鏡ht7800，屬于日立瑠璃系列產(chǎn)品ruli tem，操作的一體化和自動(dòng)化程度都有明顯提高。ht7800系列產(chǎn)品有兩個(gè)型號(hào)ht7800和ht7830。
更新時(shí)間:2024-10-25
新型臺(tái)式掃描電鏡TM4000
“tm4000”和“tm4000plus”可簡(jiǎn)化從樣品觀察、圖像確認(rèn)到生成報(bào)告等一系列操作過(guò)程，大幅提高了工作效率。還標(biāo)配了報(bào)告生成功能，觀察結(jié)束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成microsoft®word®、excel®、powerpoint®格式的報(bào)告。此外，選配項(xiàng)還可實(shí)現(xiàn)更多功能？稍跇悠穫}(cāng)內(nèi)加裝光學(xué)相機(jī)來(lái)拍攝照片，以往通過(guò)經(jīng)驗(yàn)尋找目標(biāo)位置*1，現(xiàn)在可在顯示屏上直接操作。在拍攝sem圖像時(shí)，由于“tm4000”和“tm4000plus”配置雙軸馬達(dá)臺(tái)*2，原來(lái)需手動(dòng)調(diào)整的操作，現(xiàn)在只需在顯示器上選擇要觀察的位置即可。
更新時(shí)間:2024-10-25
日立熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SU7000
此次推出的su7000采用全新設(shè)計(jì)的探測(cè)器，使得對(duì)二次電子信號(hào)、背散射電子信號(hào)的檢測(cè)以及分離能力大大提升。以前我們要根據(jù)不同的觀察信號(hào)來(lái)調(diào)整樣品與透鏡之間的距離（工作距離／以下簡(jiǎn)稱(chēng)wd），以獲得最佳的觀察與分析條件，而su7000通過(guò)新研發(fā)的樣品倉(cāng)以及檢測(cè)器系統(tǒng)，可在同樣的wd的條件下更高效地接收各種信號(hào)，縮短了樣品觀察和分析的時(shí)間，提高了測(cè)試效率。　而且，su7000還配置了可同時(shí)6通道顯示界面（前代機(jī)型只能同時(shí)顯示4通道），進(jìn)一步升級(jí)電鏡控制系統(tǒng)，大幅提高了信號(hào)獲取速度，由此實(shí)現(xiàn)了樣品的高效率觀察。它還標(biāo)配超大樣品倉(cāng)，增設(shè)了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析
更新時(shí)間:2024-10-25
日立高新熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SU5000
--搭載全新用戶(hù)界面，向所有用戶(hù)提供高畫(huà)質(zhì)圖像-- 日立高新技術(shù)公司（以下簡(jiǎn)稱(chēng)：日立高新）8月4日開(kāi)始發(fā)售的肖特基式場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡"su5000"，搭載了全新的用戶(hù)界面和"em wizard"，無(wú)論用戶(hù)的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片
更新時(shí)間:2024-10-25

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